| Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | AKTS | |
| İleri Karakterizasyon Teknikleri | MIM5012 | 3 + 0 | 7,5 |
| Birim Bölüm | MAKİNE MÜHENDİSLİĞİ - YL |
| Derece Seviye | Lisansüstü - Seçmeli - Türkçe |
| Dersin Verilişi | Yüz yüze |
| EBS Koordinatörü | Doç. Dr. Ferda MİNDİVAN |
| Ders Veren | |
| Amaç |
İleri karakterizasyon tekniklerinin teoriği ve cihazlar hakkında bilgi vermek. Malzemelerin kimyasal ve fiziksel durumlarını analiz etmek için kullanılan yöntemlerin anlaşılması ve yorumlanmasını geliştirmek. |
| Ders İçeriği |
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM), Elektron Prob Mikroanalizörü (EPMA), Auger and X-ray Fotoelektron Spektroskobu (XPS), Kütle Spektrometresi (MS), Infrared Spektroskobu (IR), Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), X-ray Difraksiyonu (XRD), Termal Analiz Yöntemleri. |
| Ders Kaynakları |
Cullity, B.D., Stock S.R., X-Işını Krınımının Esasları (3rd Edition), 2001
Briggs D. and Grant J.T., Auger ve X-ray Fotoelektron Spektroskopisi ile Yüzey Analizi, 2003 Brown, M. E., Termal Analize Giriş: Teknikler ve Uygulamalar, (2004) Goldstein J., Newbury D. E., Joy D. C., Lyman C. E., Echlin P., Lifshin E., Sawyer L., Michael J.R., Taramalı Elektron Mikroskobu ve X-ışını Mikroanalizi, (3rd Edition), 2003 Bray M.T., Cohen S. H., Lightbody M. L.,Atomik Kuvvet Mikroskobu, 1995. Williams D.B., Transmisyon Elektron Mikroskobu: Malzeme Bilimi İçin Ders Kitabı, (5th Edition), 2008. Vickerman, J. C., Brown, A. and Reed, N. M., Sekonder İyon Kütle Spektrometresi, Prensipleri ve Uygulamalrı, Clarendon Press, Oxford, 1989. |
| Yarıyıl İçi Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Bu bilgi girilmemiştir. | |
| Toplam | 0 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Bu bilgi girilmemiştir. | |
| Toplam | %0 |
| Yarıyıl İçinin Başarıya Oranı | %0 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | %0 |
| Toplam | %0 |
| Kategori | Ders İlişki Yüzdeleri (%) |
|
Aktarılabilir Beceri Dersleri
|
0
|
|
Beşeri, İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri
|
0
|
|
Destek Dersleri
|
0
|
|
Ek Dersler
|
0
|
|
Kategori
|
0
|
|
Mesleki Seçmeli Dersler
|
0
|
|
Temel Meslek Dersleri
|
0
|
|
Uygulama Dersleri
|
0
|
|
Uzmanlık / Alan Dersleri
|
0
|
| Ders İş Yükü | Öğretim Metotlar / Öğretim Metodu | Süresi (Saat) | Sayısı | Toplam İş Yükü (Saat) |
| Toplam İş Yükü (Saat) | 0 | |||
| AKTS = Toplam İş Yükü (Saat) / 25.5 (s) | 0 | |||
| AKTS | ||||
| Hafta | Konu | Öğretim Metodu |
|---|---|---|
| 1 | Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) | Gösterim |
| 2 | Enerji Dispersiv X-Ray Analizi (EDX) | Gösterim |
| 3 | Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM) | Gösterim |
| 4 | Elektron Prob Mikroanalizörü (EPMA) | Gösterim |
| 5 | X-ray Fotoelektron Spektroskobu (XPS) | Gösterim |
| 6 | Auger Fotoelektron Spektroskobu | Gösterim |
| 7 | Kütle Spektrometresi (MS) | Gösterim |
| 8 | Sekonder İyon Kütle Spektrometresi (SSIMS, Tof SIMS) | Gösterim |
| 9 | Fourier Transform İnfrared Spektroskobu (FTIR) | Gösterim |
| 10 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) | Gösterim |
| 11 | Taramalı Tunneling Mikroskobu (STM) | Gösterim |
| 12 | X-ray Difraksiyonu (XRD) | Gösterim |
| 12 | X-ray Difraksiyonu (XRD) | Gösterim |
| 14 | Termal Analiz Yötemleri | Gösterim |
| Ders Öğrenme Çıktısı | Ölçme Değerlendirme | Öğretim Metodu | Öğrenme Faaliyeti |
| İleri karakterizasyon tekniklerinin uygulama alanlarını ve yorumlama berecesini kazanır. | |||
| İleri karakterizasyon teknikleri ile ilgili teorik bilgileri bilir. |
DERS ÖĞRENME ÇIKTISI |
PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | PÇ 8 | PÇ 9 | PÇ 10 | PÇ 11 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| İleri karakterizasyon tekniklerinin uygulama alanlarını ve yorumlama berecesini kazanır. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| İleri karakterizasyon teknikleri ile ilgili teorik bilgileri bilir. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
