| Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | AKTS | |
| Fizikte Malzeme Analiz Yöntemleri | FİZ5002 | 3 + 0 | 7,5 |
| Birim Bölüm | FİZİK - YL |
| Derece Seviye | Lisansüstü - Seçmeli - Türkçe |
| Dersin Verilişi | Ders öğrencilerin katılımı ile birebir etkileşimli ve Türkçe olarak verilmektedir. |
| EBS Koordinatörü | |
| Ders Veren | |
| Amaç |
Malzeme karakterizasyonuna giriş ile karakterizasyon yöntemlerinin sınıflandırılmasını öğretmek, Mikroskobik yöntemler; Taramalı elektron mikroskobu ve çalışma prensibi, Geçirimli elektron mikroskobu ve çalışma prensibini öğretmek ve Malzemelerin mikro yapısal özelliklerini araştırmak ve mikro yapı-özellik ilişkilerini kurma becerisini kazandırmak, Elektron mikroskoplarını karşılaştırmak, Difraksiyon analizleri; XRD, XRF, XPS. Tane boyut analizi (BET, mikroskobik,..), RAMAN temellerini, çalışma prensiplerini anlamak, optik analiz yöntemlerini öğretmek ve analiz yapma, yorumlama, becerisini kazandırmak hedeflemektedir. |
| Ders İçeriği |
Yapısal karakterizasyon yöntemlerinin esasları, Fiziksel karakterizsyon yöntemlerinin tanıtılması, termal, mekanik ve optik karakterizasyonlar. Yapısal karakterizasyon yöntemlerinin tanıtılması (XRD, SAXS, SEM, EDX, TEM, SPM,AFM, UV Spektometre) |
| Ders Kaynakları |
B.D.Cullity, Elements of X-Ray diffraction, Addison-Wesley Series in Metallurgy & Materials, 2nd ed. 2001
Surface Analysis Methods in Materials Science 2nd Edition, D.J. O'Connor (Editor), Brett A. Sexton (Editor), Roger S.C. Smart (Editor), Springer; (April 23, 2003) Physical Methods for Materials Characterisation, Peter E. J. Flewitt, Robert K. Wild, Published March 13, 2017 by CRC Press |
| Yarıyıl İçi Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Bu bilgi girilmemiştir. | |
| Toplam | 0 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Bu bilgi girilmemiştir. | |
| Toplam | %0 |
| Yarıyıl İçinin Başarıya Oranı | %0 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | %0 |
| Toplam | %0 |
| Kategori | Ders İlişki Yüzdeleri (%) |
|
Aktarılabilir Beceri Dersleri
|
0
|
|
Beşeri, İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri
|
0
|
|
Destek Dersleri
|
0
|
|
Ek Dersler
|
0
|
|
Kategori
|
0
|
|
Mesleki Seçmeli Dersler
|
0
|
|
Temel Meslek Dersleri
|
0
|
|
Uygulama Dersleri
|
0
|
|
Uzmanlık / Alan Dersleri
|
0
|
| Ders İş Yükü | Öğretim Metotlar / Öğretim Metodu | Süresi (Saat) | Sayısı | Toplam İş Yükü (Saat) |
| Toplam İş Yükü (Saat) | 0 | |||
| AKTS = Toplam İş Yükü (Saat) / 25.5 (s) | 0 | |||
| AKTS | ||||
| Hafta | Konu | Öğretim Metodu |
|---|---|---|
| 1 | Cros-Section Polisher, FIB, SPM, Confogal Mikroskobi | |
| 2 | Yüzey Analizleri: Yüzey Pürüzlülük Ölçümü, AFM, XPS | |
| 3 | Karakterizasyon Yöntemlerine Giriş-Yöntemlerin Sınıflandırılması, Prensipleri ve Kullanım Yerleri (Mikroskobik ve Mikroskobik Olmayan Yöntemler) | |
| 4 | Yarıyıl İçi Sınavı | |
| 5 | Optik Mikroskop, | |
| 6 | SEM-Görüntü Analizi (SE-BSE) ve Kimyasal Analizler (EDX-WDX) | |
| 7 | malzemeler için Karakterizasyonun Önemi & malzeme Proses -Yapı-Özellik-Karakterizasyon İlişkileri | |
| 8 | Yeni teknikler | |
| 9 | Raman Spektroskopisi, FT-IR Spektroskopisi | |
| 10 | TEM-STEM-EDX, EELS, PEELS, Elektron Difraksiyon, SAED | |
| 11 | Temas Açısı Ölçümleri, Civa Porozimetrisi | |
| 8 | Yeni teknikler | |
| 13 | XRD, XRF ile Faz Analizleri | |
| 8 | Yeni teknikler |
| Ders Öğrenme Çıktısı | Ölçme Değerlendirme | Öğretim Metodu | Öğrenme Faaliyeti |
| Işık mikroskobu ile malzeme karakterizasyonu konusunda detaylı bilgi sahibi olur. | |||
| Termal analiz tekniklerini ve verilerini yorumlar. | |||
| Malzeme karakterizasyon tekniklerini sınıflandırır ve uygun tekniği seçer | |||
| Elektron mikroskoplarını öğrenir ve elektron mikroskopları ile karakterizasyon konusunda bilgi sahibi olur. | |||
| X-ışınlarının oluşumunu açıklar ve enerji ve dalgaboyu saçılımlı x-ışınları spektroskopileri verilerini yorumlar. |
DERS ÖĞRENME ÇIKTISI |
PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | PÇ 8 | PÇ 9 | PÇ 10 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Işık mikroskobu ile malzeme karakterizasyonu konusunda detaylı bilgi sahibi olur. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| Termal analiz tekniklerini ve verilerini yorumlar. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| Malzeme karakterizasyon tekniklerini sınıflandırır ve uygun tekniği seçer | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| Elektron mikroskoplarını öğrenir ve elektron mikroskopları ile karakterizasyon konusunda bilgi sahibi olur. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| X-ışınlarının oluşumunu açıklar ve enerji ve dalgaboyu saçılımlı x-ışınları spektroskopileri verilerini yorumlar. | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
