| Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | AKTS | |
| Malzeme Karakterizasyon Teknikleri II | MMM204 | 4 | 3 + 0 | 4,0 |
| Birim Bölüm | METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ |
| Derece Seviye | Lisans - Zorunlu - Türkçe |
| Dersin Verilişi | Yüzyüze |
| EBS Koordinatörü | Prof. Dr. Miraç ALAF (Yıl: 2025 - 2026) |
| Ders Veren | Doç. Dr. Betül YILDIZ |
| Amaç |
Bu dersin amacı, malzemelerin kristal yapısı, faz dönüşümleri, moleküler titreşimleri ve yüzey kimyasını analiz etmeye yönelik spektroskopik ve yapısal karakterizasyon tekniklerinin teorik temelini kazandırmaktır. Öğrenciler; X-Işını Difraksiyonu (XRD), Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FTIR), Raman Spektroskopisi, X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) ve termal analiz yöntemlerinin çalışma prensiplerini ve elde edilen verilerin yorumlanmasını kavrayacaktır. |
| Ders İçeriği |
Bu ders, malzemelerin kristal yapısını, faz dönüşümlerini, moleküler titreşimlerini ve yüzey kimyasal bileşimlerini analiz etmeye yönelik spektroskopik ve yapısal karakterizasyon tekniklerinin teorik temellerini kapsar. Ders kapsamında X-Işını Difraksiyonu (XRD) ile kristal yapı ve faz analizi; Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FTIR) ve Raman spektroskopisi ile moleküler yapı analizi; X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) ile yüzey kimyası ve bağ enerjisi analizi; termogravimetrik analiz (TGA), diferansiyel taramalı kalorimetri (DSC), DTA ve TMA gibi termal analiz teknikleri ile malzemelerin termal kararlılığı ve faz dönüşümleri incelenir. Ayrıca kombine ve in-situ yöntemlerin teorik esaslarına yer verilir. |
| Ders Kaynakları |
Elements of X-Ray Diffraction
Yazar: B. D. Cullity, S. R. Stock
Yayınevi: Pearson, 2014
Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods Yazar: Yang Leng Yayınevi: Wiley, 2008 Spectroscopy of Semiconductors and Advanced Materials Yazar: David B. Holt, David C. Joy Thermal Analysis of Materials Yazar: Robert F. Speyer |
| Açıldığı Öğretim Yılı | 2025 - 2026 |
| Yarıyıl İçi Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Ara Sınav 1 | 30 |
| Ödev (Sunum) | 20 |
| Toplam | 50 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
| Final | %50 |
| Toplam | %50 |
| Yarıyıl İçinin Başarıya Oranı | %50 |
| Yarıyıl Sonu Çalışmalar | %50 |
| Toplam | %100 |
| Kategori | Ders İlişki Yüzdeleri (%) |
|
Aktarılabilir Beceri Dersleri
|
0
|
|
Beşeri, İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri
|
0
|
|
Destek Dersleri
|
0
|
|
Ek Dersler
|
0
|
|
Kategori
|
0
|
|
Mesleki Seçmeli Dersler
|
0
|
|
Temel Meslek Dersleri
|
0
|
|
Uygulama Dersleri
|
0
|
|
Uzmanlık / Alan Dersleri
|
0
|
|
Yetkinlik Tamamlayıcı Ders
|
0
|
| Ders İş Yükü | Öğretim Metotlar / Öğretim Metodu | Süresi (Saat) | Sayısı | Toplam İş Yükü (Saat) |
| Toplam İş Yükü (Saat) | 0 | |||
| AKTS = Toplam İş Yükü (Saat) / 25.5 (s) | 0 | |||
| AKTS | 4,0 | |||
| Hafta | Konu | Öğretim Metodu |
|---|---|---|
| 1 | Derse giriş, spektroskopik ve yapısal analiz kavramlarına genel bakış | Ders |
| 2 | Kristal yapılar ve difraksiyon temelleri | Ders |
| 3 | X-Işını Difraksiyonu (XRD) prensipleri | Ders |
| 4 | Faz analizi, kristalit boyutu ve mikrogerinim hesaplamaları | Ders |
| 5 | FTIR spektroskopisi – fonksiyonel grup analizi | Ders |
| 6 | Raman spektroskopisi ve karbon esaslı malzemelerin analizi | Ders |
| 7 | XPS – yüzey kimyası ve bağ enerjisi analizi | Ders |
| 8 | Ara Sınav (Vize) | Ders |
| 9 | Termogravimetrik analiz (TGA) | Ders |
| 10 | Diferansiyel taramalı kalorimetri (DSC), DTA ve TMA | Ders |
| 11 | Kombine ve in-situ karakterizasyon teknikleri | Ders |
| 12 | Tekniklerin karşılaştırılması ve veri yorumlama | Ders |
| 13 | Öğrenci sunumları I | Ders Tartışmalı Ders |
| 14 | Öğrenci sunumları II ve dersin genel değerlendirmesi | Ders Tartışmalı Ders |
| Ders Öğrenme Çıktısı | Ölçme Değerlendirme | Öğretim Metodu | Öğrenme Faaliyeti |
| XRD, FTIR, Raman, XPS ve termal analiz gibi spektroskopik ve yapısal karakterizasyon tekniklerinin çalışma prensiplerini açıklar. | Yazılı Sınav | Ders Tartışmalı Ders | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
| Karakterizasyon tekniğini malzeme türüne ve analiz amacına göre bilimsel temelde seçer. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
| XRD, FTIR ve Raman spektrumlarından elde edilen verileri yorumlar ve faz/kimyasal yapı analizi yapar. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
| Bilimsel kaynaklara dayalı olarak bir spektroskopik teknik hakkında sunum hazırlar ve sonuçları akademik formatta tartışır. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
DERS ÖĞRENME ÇIKTISI |
PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | PÇ 8 | PÇ 9 | PÇ 10 | PÇ 11 | PÇ 12 | PÇ 13 | PÇ 14 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Ortalama Değer | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
