Ders Adı | Kodu | Yarıyıl | T+U Saat | AKTS | |
Malzeme Karakterizasyon Teknikleri-I | MMM225 | 3 | 3 + 0 | 5,0 |
Birim Bölüm | METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ |
Derece Seviye | Lisans - Zorunlu - Türkçe |
Dersin Verilişi | Ders teorik temelli olup görsel sunumlar, cihaz tanıtımları ve örnek analiz verileri üzerinden yürütülür. Ayrıca laboratuvar videoları ve rapor örnekleri ile öğrencilerin cihazların çalışma mantığını ve veri yorumlama becerilerini geliştirmesi hedeflenir. |
EBS Koordinatörü | Prof. Dr. Miraç ALAF |
Ders Veren | Prof. Dr. Miraç ALAF |
Amaç |
Bu dersin amacı, malzemelerin mikro ve makro ölçekteki yapısal, kimyasal ve fiziksel özelliklerinin belirlenmesi için kullanılan karakterizasyon tekniklerini tanıtmaktır. Öğrenciler, malzeme bilimi ve mühendisliği alanında kullanılan temel analiz yöntemlerinin prensiplerini, uygulama alanlarını ve sonuçların yorumlanmasını öğrenirler. |
Ders İçeriği |
Bu ders, malzemelerin karakterizasyonunda kullanılan temel mikroskopi, spektroskopi ve analiz tekniklerinin fiziksel prensiplerini ve kullanım alanlarını teorik olarak açıklar. Ders kapsamında optik mikroskopi, taramalı elektron mikroskobu (SEM), geçirimli elektron mikroskobu (TEM), atomik kuvvet mikroskobu (AFM), taramalı tünelleme mikroskobu (STM) gibi görüntüleme yöntemleri ile enerji dağılımlı (EDS), dalga boyu dağılımlı (WDS) ve X-ışını floresans (XRF) spektroskopilerinin temel çalışma mantıkları incelenir. Öğrenciler, farklı karakterizasyon yöntemlerinin sağladığı bilgi türlerini, avantajlarını ve sınırlılıklarını kavramsal düzeyde öğrenir; hangi malzeme sistemleri için hangi yöntemin uygun olduğunu teorik olarak değerlendirebilir |
Ders Kaynakları |
Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yazar: Yang Leng
Yayınevi: Wiley, 2008
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis Yazarlar: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, et al. Yayınevi: Springer, 2018 (4th Ed.) Materials Characterization Techniques Yazarlar: Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar Yayınevi: CRC Press, 2008 |
Açıldığı Öğretim Yılı | 2025 - 2026 |
Yarıyıl İçi Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
Ara Sınav 1 | 30 |
Ödev 1 | 15 |
Ödev (Sunum) | 10 |
Toplam | 55 |
Yarıyıl Sonu Çalışmalar | Katkı Yüzdesi (%) |
Final | %45 |
Toplam | %45 |
Yarıyıl İçinin Başarıya Oranı | %55 |
Yarıyıl Sonu Çalışmalar | %45 |
Toplam | %100 |
Kategori | Ders İlişki Yüzdeleri (%) |
Aktarılabilir Beceri Dersleri
|
0
|
Beşeri, İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri
|
0
|
Destek Dersleri
|
0
|
Ek Dersler
|
0
|
Kategori
|
0
|
Mesleki Seçmeli Dersler
|
0
|
Temel Meslek Dersleri
|
0
|
Uygulama Dersleri
|
0
|
Uzmanlık / Alan Dersleri
|
0
|
Yetkinlik Tamamlayıcı Ders
|
0
|
Ders İş Yükü | Öğretim Metotlar / Öğretim Metodu | Süresi (Saat) | Sayısı | Toplam İş Yükü (Saat) |
Dinleme ve anlamlandırma | Ders | 2 | 14 | 28 |
Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme | Tartışmalı Ders | 1 | 14 | 14 |
Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme | Küçük Grup Tartışması | 1 | 5 | 5 |
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, yazma, okuma | İnceleme / Anket Çalışması | 1 | 14 | 14 |
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, yazma, okuma, Bilişim | Sınıf Dışı Çalışma | 1 | 14 | 14 |
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, durumları işleme, soru geliştirme, yorumlama, sunum | Sözlü | 1 | 14 | 14 |
Ara Sınav 1 | Ara Sınav 1 | 10 | 1 | 10 |
Ödev 1 | Ödev 1 | 5 | 1 | 5 |
Ödev (Sunum) | Ödev (Sunum) | 5 | 1 | 5 |
Final | Final | 15 | 1 | 15 |
Toplam İş Yükü (Saat) | 124 | |||
AKTS = Toplam İş Yükü (Saat) / 25.5 (s) | 4,86 | |||
AKTS | 5,0 |
Hafta | Konu | Öğretim Metodu |
---|---|---|
1 | Giriş ve Temel Kavramlar | Ders |
2 | Optik Mikroskopi ve Metalografi Temelleri / | Ders |
3 | Numune Hazırlama ve Mikroyapı Gözlemleri | Ders |
4 | Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Prensipleri | Ders |
3 | Numune Hazırlama ve Mikroyapı Gözlemleri | Ders |
6 | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) | Ders |
7 | Dalga Boyu Dağılımlı Spektroskopi (WDS) ve XRF | Ders |
8 | Ara Sınav | Ders |
9 | Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM) | Ders |
10 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve STM | Ders |
10 | SEM–EDS–XRF Sonuçlarının Yorumlanması | |
12 | Mikroskopi Tekniklerinin Karşılaştırılması | Ders |
13 | Öğrenci Sunumları I | Ders Tartışmalı Ders |
14 | Öğrenci Sunumları II | Ders Tartışmalı Ders |
Ders Öğrenme Çıktısı | Ölçme Değerlendirme | Öğretim Metodu | Öğrenme Faaliyeti |
Farklı karakterizasyon tekniklerinin (optik, SEM, TEM, AFM, EDS, XRF vb.) temel çalışma prensiplerini açıklar. | Yazılı Sınav | Ders Tartışmalı Ders | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
Malzeme türüne ve analiz amacına göre uygun karakterizasyon yöntemini seçer. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
Mikroskopi ve spektroskopi yöntemlerinden elde edilen verileri yorumlar. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
SEM–EDS veya XRF gibi kombinasyonel yöntemlerin sağladığı bilgileri bütünleştirir. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
Bilimsel kaynaklardan yararlanarak seçili bir karakterizasyon tekniği hakkında sunum hazırlar. | Yazılı Sınav Ödev / Proje | Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması | Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme |
DERS ÖĞRENME ÇIKTISI |
PÇ 1 | PÇ 2 | PÇ 3 | PÇ 4 | PÇ 5 | PÇ 6 | PÇ 7 | PÇ 8 | PÇ 9 | PÇ 10 | PÇ 11 | PÇ 12 | PÇ 13 | PÇ 14 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Farklı karakterizasyon tekniklerinin (optik, SEM, TEM, AFM, EDS, XRF vb.) temel çalışma prensiplerini açıklar. | 5 | 4 | 3 | 4 | 2 | 3 | 2 | 3 | 2 | 3 | - | - | - | - | ;
Malzeme türüne ve analiz amacına göre uygun karakterizasyon yöntemini seçer. | 5 | 5 | 4 | 4 | 3 | 3 | 2 | 3 | 2 | 3 | - | - | - | - | ;
Mikroskopi ve spektroskopi yöntemlerinden elde edilen verileri yorumlar. | 5 | 5 | 4 | 3 | 2 | 3 | 2 | 3 | 2 | 3 | - | - | - | - | ;
SEM–EDS veya XRF gibi kombinasyonel yöntemlerin sağladığı bilgileri bütünleştirir. | 4 | 4 | 5 | 4 | 2 | 3 | 2 | 3 | 2 | 3 | - | - | - | - | ;
Bilimsel kaynaklardan yararlanarak seçili bir karakterizasyon tekniği hakkında sunum hazırlar. | 3 | 3 | 2 | 3 | 2 | 5 | 4 | 5 | 4 | 5 | - | - | - | - | ;
Ortalama Değer | 4,4 | 4,2 | 3,6 | 3,6 | 2,2 | 3,4 | 2,4 | 3,4 | 2,4 | 3,4 | - | - | - | - |