EN
  • Anasayfa
  • MMM225 Malzeme Karakterizasyon Teknikleri-I (2025 - 2026 / 3. Yarıyıl)
  • EN
MMM225 - Malzeme Karakterizasyon Teknikleri-I
Ders Adı Kodu Yarıyıl T+U Saat AKTS Pdf
Malzeme Karakterizasyon Teknikleri-I MMM225 3 3 + 0 5,0 Pdf
Birim Bölüm
METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ
Derece Seviye Lisans - Zorunlu - Türkçe
Dersin Verilişi Ders teorik temelli olup görsel sunumlar, cihaz tanıtımları ve örnek analiz verileri üzerinden yürütülür. Ayrıca laboratuvar videoları ve rapor örnekleri ile öğrencilerin cihazların çalışma mantığını ve veri yorumlama becerilerini geliştirmesi hedeflenir.
EBS Koordinatörü Prof. Dr. Miraç ALAF
Ders Veren Prof. Dr. Miraç ALAF
Amaç

Bu dersin amacı, malzemelerin mikro ve makro ölçekteki yapısal, kimyasal ve fiziksel özelliklerinin belirlenmesi için kullanılan karakterizasyon tekniklerini tanıtmaktır. Öğrenciler, malzeme bilimi ve mühendisliği alanında kullanılan temel analiz yöntemlerinin prensiplerini, uygulama alanlarını ve sonuçların yorumlanmasını öğrenirler.

Ders İçeriği

Bu ders, malzemelerin karakterizasyonunda kullanılan temel mikroskopi, spektroskopi ve analiz tekniklerinin fiziksel prensiplerini ve kullanım alanlarını teorik olarak açıklar. Ders kapsamında optik mikroskopi, taramalı elektron mikroskobu (SEM), geçirimli elektron mikroskobu (TEM), atomik kuvvet mikroskobu (AFM), taramalı tünelleme mikroskobu (STM) gibi görüntüleme yöntemleri ile enerji dağılımlı (EDS), dalga boyu dağılımlı (WDS) ve X-ışını floresans (XRF) spektroskopilerinin temel çalışma mantıkları incelenir. Öğrenciler, farklı karakterizasyon yöntemlerinin sağladığı bilgi türlerini, avantajlarını ve sınırlılıklarını kavramsal düzeyde öğrenir; hangi malzeme sistemleri için hangi yöntemin uygun olduğunu teorik olarak değerlendirebilir

Ders Kaynakları Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yazar: Yang Leng Yayınevi: Wiley, 2008
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis Yazarlar: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, et al. Yayınevi: Springer, 2018 (4th Ed.)
Materials Characterization Techniques Yazarlar: Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar Yayınevi: CRC Press, 2008
Açıldığı Öğretim Yılı 2025 - 2026
Yarıyıl İçi Çalışmalar Katkı Yüzdesi (%)
Ara Sınav 1 30
Ödev 1 15
Ödev (Sunum) 10
Toplam 55
Yarıyıl Sonu Çalışmalar Katkı Yüzdesi (%)
Final %45
Toplam %45
Yarıyıl İçinin Başarıya Oranı %55
Yarıyıl Sonu Çalışmalar %45
Toplam %100
Kategori Ders İlişki Yüzdeleri (%)
Aktarılabilir Beceri Dersleri
0
Beşeri, İletişim ve Yönetim Becerileri Dersleri
0
Destek Dersleri
0
Ek Dersler
0
Kategori
0
Mesleki Seçmeli Dersler
0
Temel Meslek Dersleri
0
Uygulama Dersleri
0
Uzmanlık / Alan Dersleri
0
Yetkinlik Tamamlayıcı Ders
0
Ders İş Yükü Öğretim Metotlar / Öğretim Metodu Süresi (Saat) Sayısı Toplam İş Yükü (Saat)
Dinleme ve anlamlandırma Ders 2 14 28
Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Tartışmalı Ders 1 14 14
Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Küçük Grup Tartışması 1 5 5
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, yazma, okuma İnceleme / Anket Çalışması 1 14 14
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, yazma, okuma, Bilişim Sınıf Dışı Çalışma 1 14 14
Araştırma – yaşam boyu öğrenme, durumları işleme, soru geliştirme, yorumlama, sunum Sözlü 1 14 14
Ara Sınav 1 Ara Sınav 1 10 1 10
Ödev 1 Ödev 1 5 1 5
Ödev (Sunum) Ödev (Sunum) 5 1 5
Final Final 15 1 15
Toplam İş Yükü (Saat) 124
AKTS = Toplam İş Yükü (Saat) / 25.5 (s) 4,86
AKTS 5,0
Hafta Konu Öğretim Metodu
1 Giriş ve Temel Kavramlar Ders
2 Optik Mikroskopi ve Metalografi Temelleri / Ders
3 Numune Hazırlama ve Mikroyapı Gözlemleri Ders
4 Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Prensipleri Ders
3 Numune Hazırlama ve Mikroyapı Gözlemleri Ders
6 Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) Ders
7 Dalga Boyu Dağılımlı Spektroskopi (WDS) ve XRF Ders
8 Ara Sınav Ders
9 Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM) Ders
10 Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve STM Ders
10 SEM–EDS–XRF Sonuçlarının Yorumlanması
12 Mikroskopi Tekniklerinin Karşılaştırılması Ders
13 Öğrenci Sunumları I Ders Tartışmalı Ders
14 Öğrenci Sunumları II Ders Tartışmalı Ders
Ders Öğrenme Çıktısı Ölçme Değerlendirme Öğretim Metodu Öğrenme Faaliyeti
Farklı karakterizasyon tekniklerinin (optik, SEM, TEM, AFM, EDS, XRF vb.) temel çalışma prensiplerini açıklar. Yazılı Sınav Ders Tartışmalı Ders Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme
Malzeme türüne ve analiz amacına göre uygun karakterizasyon yöntemini seçer. Yazılı Sınav Ödev / Proje Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme
Mikroskopi ve spektroskopi yöntemlerinden elde edilen verileri yorumlar. Yazılı Sınav Ödev / Proje Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme
SEM–EDS veya XRF gibi kombinasyonel yöntemlerin sağladığı bilgileri bütünleştirir. Yazılı Sınav Ödev / Proje Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme
Bilimsel kaynaklardan yararlanarak seçili bir karakterizasyon tekniği hakkında sunum hazırlar. Yazılı Sınav Ödev / Proje Ders Tartışmalı Ders Vaka Çalışması Küçük Grup Tartışması Dinleme ve anlamlandırma Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme Önceden planlanmış özel beceriler Dinleme ve anlamlandırma, gözlem/durumları işleme, eleştirel düşünme, soru geliştirme
; ; ; ; ;
DERS ÖĞRENME ÇIKTISI
PÇ 1 PÇ 2 PÇ 3 PÇ 4 PÇ 5 PÇ 6 PÇ 7 PÇ 8 PÇ 9 PÇ 10 PÇ 11 PÇ 12 PÇ 13 PÇ 14
Farklı karakterizasyon tekniklerinin (optik, SEM, TEM, AFM, EDS, XRF vb.) temel çalışma prensiplerini açıklar. 5 4 3 4 2 3 2 3 2 3 - - - -
Malzeme türüne ve analiz amacına göre uygun karakterizasyon yöntemini seçer. 5 5 4 4 3 3 2 3 2 3 - - - -
Mikroskopi ve spektroskopi yöntemlerinden elde edilen verileri yorumlar. 5 5 4 3 2 3 2 3 2 3 - - - -
SEM–EDS veya XRF gibi kombinasyonel yöntemlerin sağladığı bilgileri bütünleştirir. 4 4 5 4 2 3 2 3 2 3 - - - -
Bilimsel kaynaklardan yararlanarak seçili bir karakterizasyon tekniği hakkında sunum hazırlar. 3 3 2 3 2 5 4 5 4 5 - - - -
Ortalama Değer 4,4 4,2 3,6 3,6 2,2 3,4 2,4 3,4 2,4 3,4 - - - -